杂散光抑制与测试技术

  产品概述:

  该研究领域从2009年起,至今已发展成集光电系统杂散光仿真分析、优化设计、专业测试、测试设备研制为一体化的专业团队。目前致力于:面向国际杂散光抑制技术发展前沿,重点突破及解决光电领域内各种杂散光抑制瓶颈问题,从光学系统杂散光仿真分析到优化设计,再到杂散光测试,形成专业化的科研平台,建成一支解决关键技术难题的“打杂专业户”团队,立足于引领国内杂散光抑制与测试技术专业化、科学化发展。

  应用领域:

  杂散光测试设备包括杂光系数测试仪和点源透过率(PST)测试系统,分别可以完成杂散光系数和PST的测试,同时我中心可承接各类航天、航空类光学系统的杂散光仿真以及设计工作。

  产品展示:

  产品特点:

  精密计量技术研究中心研制的杂散光测试设备包括杂光系数测试仪和点源透过率(PST)测试系统,分别可以完成杂散光系数和PST的测试,其中杂光系数测试仪采用经典“面源法”原理研制,可完成数码镜头,星敏感器等各类相机的全视场杂散光系数测试,其测试精度优于±1%,随着被测相机口径的增大,本中心于2012年开始研制了长焦距大口径杂散光系数测试系统,首次在国内采用离轴反射式系统作为杂光系数测试仪的准直物镜,可完成口径Φ1000mm以内的光学系统的杂光系数的测量;PST测试系统又称点源透过率测试系统,可完成各类星载、舰载、空间观测相机等大型光电系统的点源透过率测试,从而判断其在轨运行时的抗杂光(如太阳)能力,目前,根据我中心为上海技术物理研究所研制的PST测试系统的实验情况来看,其测量口径、波段宽度以及测试精度均为国内领先水品。

  研究团队在近十年的发展中,在杂散光领域始终坚持理论研究为主,测试基础为辅。近年来,立足于杂散光测试系统的硬件平台,我中心先后提出了用于杂散光仿真设计散射理论,基于消光黑漆的BRDF建模标准等,先后为所内外型号任务的杂散光设计提供了精确的仿真,杂散光系数仿真精度优于0.2%,PST对数仿真精度优于0.5,并具备各类光学系统杂散光抑制与分析设计能力,已为多个科研项目完成遮光罩的设计,处于国内领先水平。

  性能指标:

  1) 测试口径:最大可达Φ1000mm(支持定制更大口径)

  2) 测试波段:可见至长波红外

  3) 杂散光系数测试精度:±1%

  4) PST重复测试精度:≤10%

  5) PST测试阈值:最低可达到10-10

  6) PST测量绝对精度:≤0.5(log)

  典型测量(或应用、使用)结果(示例):

  相关文章、专利:

  1) 徐亮,赵建科,薛勋,刘峰,胡丹丹,月基望远镜探测能力的地面标定,2012,光学精密工程,43(4):972-978

  2) 徐亮,高立民,赵建科,刘峰,周艳,李朝辉,杨菲,赵青,基于点源透过率测试系统的杂散光标定,2016,光学精密工程,24(7):1607-1614

  3) 赵青,赵建科,徐亮,刘峰,李朝辉,航天消光黑漆双向反射分布函数的测量与应用,2016,光学精密工程,24(11):2627-2635

  大视场杂散光PST测试方法及装置

附件下载: