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光学性能指标测试系统
2012-08-17 | 编辑: | 【  【打印】【关闭】

主要功能:

主要用于各种光学零件、部件及光学系统的像质评价及光学基本量的测定。可实现入瞳小于160mm、焦距在400~1000mm、可见光波段的光学系统的焦距、视场、相对孔径、像质及目视鉴别率的测量。与CCD显微系统配合,亦可用于照相物镜和望远物镜的球差、色差、彗差、象散以及子午、弧矢场曲等几何象差的测量

技术指标:

平行光管:F=2000mm.D/F=1:12;

亚微米光栅测长仪:行程:150mm,分辨率0.001mm;

读数显微系统:目镜:7×、10×,物镜:3×、4×、10×、20×、25×、40×;

转台:转角范围:150°,分化值:30';

CCD显微系统:像元尺寸:7.8μm,像素:768×576;

系统组成:该系统主要由2m光具座、亚微米数显光栅测长仪及2m透射式平行光管组成。

存放地点:一楼弱目标实验室

联系人:李坤   联系方式:029-88887515

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