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| 作者: | Ding, Wenzhe; Bai, Xiang; Wang, Qingwei; Long, Fang; Li, Hailin; Wu, Zhengrong; Liu, Jian; Yao, Huisheng; Yang, Hong | ||||||||
| 刊物名称: | RELIABILITY ENGINEERING & SYSTEM SAFETY | ||||||||
| 所属学科: | |||||||||
| 论文题目: | A truncated test scheme design method for success-failure in-orbit tests | ||||||||
| 发表年度: | 2024 | ||||||||
| 卷: | 243 | ||||||||
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