中国科学院西安光学精密机械研究所

Blind deep-learning based preprocessing method for Fourier ptychographic microscopy

论文编号:

作者:

Wu, Kai; Pan, An; Sun, Zhonghan; Shi, Yinxia; Gao, Wei

刊物名称:

OPTICS AND LASER TECHNOLOGY

所属学科:

论文题目:

Blind deep-learning based preprocessing method for Fourier ptychographic microscopy

发表年度:

2024

卷:

169

期:

页:

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