中国科学院西安光学精密机械研究所

专利名称:

基于计算全息元件的大口径杂光系数测试方法及其系统

英文名称:

专利号:

CN101178337

专利类别:

G01M11/02,G01M11/00

专利证书号:

申请号:

CN200610104862.4

第一发明人:

中国科学院西安光学精密机械研究所

申请日期:

2006-11-7

专利授权日期:

国外申请日期:

国外申请方式:

缴费情况:

实施情况:

授权

专利摘要:

其它备注:

版权所有 © 中国科学院西安光学精密机械研究所　陕ICP备05007611
地址：西安市高新区新型工业园信息大道17号　邮编：710119
技术支持：青云软件