中国科学院西安光学精密机械研究所

专利名称:

大口径取样光栅取样率的测试装置及测试方法

英文名称:

专利号:

CN103033340A

专利类别:

G01M11/02,G01J1/00

专利证书号:

申请号:

CN201110311551.6

第一发明人:

中国科学院西安光学精密机械研究所

申请日期:

2011-9-28

专利授权日期:

国外申请日期:

国外申请方式:

缴费情况:

实施情况:

审中

专利摘要:

其它备注:

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