中国科学院西安光学精密机械研究所

专利名称:

杂光系数和点源透过率复合测试方法及系统

英文名称:

专利号:

CN103454072A

专利类别:

G01M11/02

专利证书号:

申请号:

CN201310375615.8

第一发明人:

中国科学院西安光学精密机械研究所

申请日期:

2013-8-26

专利授权日期:

国外申请日期:

国外申请方式:

缴费情况:

实施情况:

审中

专利摘要:

其它备注:

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