中国科学院西安光学精密机械研究所

专利名称:

绝对水平基准精度测试系统及测试方法

专利号:

CN104034349A

专利类别:

G01C25/00

申请号:

CN201410184200.7

第一发明人:

中国科学院西安光学精密机械研究所

申请日期:

2014-5-4

实施情况:

审中

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