中国科学院西安光学精密机械研究所

专利名称:

高精度视场匹配的主被动立体光谱成像装置及其探测方法

英文名称:

专利号:

CN106644077A

专利类别:

发明

专利证书号:

申请号:

CN201611198583.9

第一发明人:

中国科学院西安光学精密机械研究所

申请日期:

2016-12-22

专利授权日期:

2017-05-10

国外申请日期:

国外申请方式:

缴费情况:

实施情况:

审查中-实审

专利摘要:

其它备注:

版权所有 © 中国科学院西安光学精密机械研究所　陕ICP备05007611
地址：西安市高新区新型工业园信息大道17号　邮编：710119
技术支持：青云软件