中国科学院西安光学精密机械研究所

专利名称:

大口径杂散光测试装置及测试方法

英文名称:

专利号:

CN103234734B

专利类别:

发明

专利证书号:

申请号:

CN201310122056.X

第一发明人:

中国科学院西安光学精密机械研究所

申请日期:

2013-04-09

专利授权日期:

2016-06-08

国外申请日期:

国外申请方式:

缴费情况:

实施情况:

授权

专利摘要:

其它备注:

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