中国科学院西安光学精密机械研究所

专利名称:

一种可实现离轴反射镜高低点位置精确测量的系统

英文名称:

专利号:

CN208333382U

专利类别:

专利证书号:

申请号:

CN201821258156.X

第一发明人:

中国科学院西安光学精密机械研究所

申请日期:

2018-8-6

专利授权日期:

2019-1-4

国外申请日期:

国外申请方式:

缴费情况:

实施情况:

有效

专利摘要:

其它备注:

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