专利名称:   可实现集束晶圆级老化的芯片、晶圆
英文名称:  
专利号:   CN208014653U
专利类别:  
专利证书号:  
申请号:   CN201820432955.8
第一发明人:   中国科学院西安光学精密机械研究所,西安中科阿尔法电子科技有限公司
申请日期:   2018-3-28
专利授权日期:   2018-10-26
国外申请日期:  
国外申请方式:  
缴费情况:  
实施情况:   有效
专利摘要:  
其它备注:  
   

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