中国科学院西安光学精密机械研究所

专利名称:

一种对具有平行线特征的目标空间姿态测量方法

英文名称:

专利号:

CN108444449B

专利类别:

专利证书号:

申请号:

CN201810108270.2

第一发明人:

中国科学院西安光学精密机械研究所,中国科学院大学,西安中科光电精密工程有限公司

申请日期:

2018-2-2

专利授权日期:

2019-3-8

国外申请日期:

国外申请方式:

缴费情况:

实施情况:

有效

专利摘要:

其它备注:

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