专利名称:   一种光学成像系统精确延时的测量方法
英文名称:  
专利号:   CN109489940A
专利类别:  
专利证书号:  
申请号:   CN201811301960.6
第一发明人:   中国科学院西安光学精密机械研究所,北京机电工程总体设计部
申请日期:   2018-11-2
专利授权日期:   2019-3-19
国外申请日期:  
国外申请方式:  
缴费情况:  
实施情况:   审查中
专利摘要:  
其它备注:  
   

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