中国科学院西安光学精密机械研究所

专利名称:

一种大口径光学元件面形检测装置及检测图像畸变校正方法

英文名称:

专利号:

CN115127473A

专利类别:

专利证书号:

申请号:

CN202210610659.3

第一发明人:

中国科学院西安光学精密机械研究所

申请日期:

2022-05-31

专利授权日期:

-

国外申请日期:

国外申请方式:

缴费情况:

实施情况:

专利摘要:

其它备注:

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