专利名称:   一种基于水下探测的全海深高强度耐压光谱分析装置
英文名称:  
专利号:   CN107941715B
专利类别:   授权发明
专利证书号:  
申请号:   CN201711464847.5
第一发明人:   中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日期:   2017-12-28
专利授权日期:   2024-05-31
国外申请日期:  
国外申请方式:  
缴费情况:  
实施情况:  
专利摘要:  
其它备注:  
   

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