2025年1月23日 星期四


专利名称:   基于双谱段叠层干涉的高光谱成像装置
专利号:   CN111307761B
专利类别:   授权发明
申请号:   CN201911150506.X
第一发明人:   中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日期:   2019-11-21
专利授权日期:   2024-05-31
   

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