科研成果

  星敏感器光学系统参数测试设备和高精度畸变测试设备:能够对各类恒星敏感器、地球敏感器、月球敏感器光学系统的焦距、入瞳、工作距、视场角、弥散斑、色偏差、畸变等光学性能参数进行测试。光学系统畸变测试精度最高可达0.02‰,弥散斑测试重复性优于0.5μm,色偏差测试重复性优于0.5μm;该实验平台是我国唯一能进行敏感器系列光学性能测量的平台,其测试能力达到国内领先水平。

  紫外弱光星等模拟器:主要用于各种探测相机的星等探测能力的标定和信噪比测量。有效测量口径500mm,可对光谱范围200nm~2500nm的+3Mv~+16Mv星等进行模拟,模拟精度达到±0.2个星等。

  点源透过率(PST)杂光测试系统:主要用于各类不同光学系统,成像相机,探测相机视场外点源透过率(PST)的测试。PST测试量程:10-10~1,最低测量能力:优于10-13,测量口径:850mm,角度测量范围:±180°,测量精度:优于1%。该平台目前为国内唯一PST测量极限能力能达到10-10的杂光测试平台。