本报讯（记者 张梅 通讯员 陈桂平）日前，国家知识产权局公布第十六届中国专利奖获奖名单，西安光机所申报的发明专利“一种畸变测试仪”荣获中国专利优秀奖。

　　该畸变测试仪综合了精密测角技术、激光干涉测长技术、结合光学放大的图像处理技术，创造性地提出一种高精度畸变测量方案和算法，可以实现超低畸变光学系统的测试。该设备绝对畸变测试误差优于0.2微米，已经成功应用于我国重要科研任务光学系统的测试。

原载于2015年3月10日陕西日报第10版

http://esb.sxdaily.com.cn/sxrb/20150310/html/page_09_content_008.htm