本报讯 近日，中科院条件保障与财务局组织来自西安交大等单位的9名专家教授，验收并通过了西安光机所研制的国内第一台具备功率、波长、光谱、偏振监测的多功能高功率半导体激光器老化和寿命测试系统。 

　　专家认为，与国际同类设备相比，该系统测试功能更加全面，部分指标更优，测试速度快，效率高，借助此设备，可实现大功率半导体激光器规模化老化及寿命测试。（张行勇） 

  　原载于《中国科学报》　2015-11-25 第4版  综合 

　　http://news.sciencenet.cn/sbhtmlnews/2015/11/306685.shtm