5月16日，中国科学院西安分院在西安组织召开了由中国科学院西安光学精密机械研究所与我所投资企业——西安中科麦特电子技术设备有限公司共同承担完成的“高分辨率X射线像增强器视觉系统”成果鉴定会。

中科院西安分院周杰副院长（右2）及专家组成员进行现场考察

　  高分辨率X射线像增强器视觉系统是一项具有自主知识产权、设计先进、操作简便、使用安全的工业X射线检测系统，它可广泛应用于电子工业生产装配中出现的短路、开路、冷焊和焊点空洞等质量问题，适用于BGA、CSP、Flip Chip 集成电路内部以及多层电路板的质量检测，亦可用于其他领域的X射线检测。

高分辨率X射线像增强器视觉系统

　  高分辨率X射线像增强器视觉系统采用密封型微焦斑X光管，无需抽真空，可以轻易穿透带散热片的芯片，并且实现了大视场浏览和局部细节观测两种检测需求的快速切换，提升了检测效率。同时采用自主研发的高分辨率X射线增强器图像及专用的图像处理软件使得图像更加清晰。该系统所有操作可通过计算机独立完成，高稳定性的运动平台可在X、Y、Z方向大行程运动，倾斜检测模式可使用户更为准确地实施产品质量的检测。
　  鉴定委员会在听取项目组的工作报告、技术报告，及测试组的测试报告，并经过现场考察、质询和讨论后一致同意通过该项目成果鉴定。专家组认为，高分辨率X射线像增强器视觉系统设计先进、综合技术处于国内领先水平，具有广阔的应用前景和较好的经济效益，并建议进一步加强对系统的产业化开发，以拓展产品在更多领域的应用。（光电子学室提供）